當前位置:首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 磁光克爾測試平臺 > 磁光克爾測試 > Kerr Microscope磁光克爾綜合測試平臺
簡(jiǎn)要描述:磁光克爾綜合測試平臺從傳感器,到 非易失性磁存儲,再到新材料的特性研究,自旋電子學(xué)不僅是當前科學(xué)研究的熱點(diǎn),也被工業(yè)界廣泛重視。磁疇的直接觀(guān)測與記錄,對于材料的研究有著(zhù)重要的意義;對磁疇運動(dòng)過(guò)程的剖析,不僅直觀(guān)的展現了磁性翻轉,而且有助于分析物理過(guò)程的機理。
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磁光克爾綜合測試平臺產(chǎn)品介紹
自旋電子學(xué)經(jīng)過(guò)數十年的發(fā)展,在許多領(lǐng)域都有了的表現。從傳感器,到 非易失性磁存儲,再到新材料的特性研究,自旋電子學(xué)不僅是當前科學(xué)研究的熱點(diǎn),也被工業(yè)界廣泛重視。磁疇的直接觀(guān)測與記錄,對于材料的研究有著(zhù)重要的意義;對磁疇運動(dòng)過(guò)程的剖析,不僅直觀(guān)的展現了磁性翻轉,而且有助于分析物理過(guò)程的機理。相較于傳統的單點(diǎn)磁滯回線(xiàn)測量?jì)x,光磁克爾綜合測試平臺,可以追蹤平面內數百萬(wàn)點(diǎn)的實(shí)時(shí)磁性動(dòng)態(tài)信息。結合該測試平臺提供的直流探針,高頻探針,樣品的測試無(wú)比的便捷。
當下自旋電子學(xué)或磁學(xué)的研究,已經(jīng)由磁性驅動(dòng)的翻轉,發(fā)展到了直流電流驅動(dòng)、脈沖電流驅動(dòng)、微波脈沖驅動(dòng)、光驅動(dòng)等一系列的激勵源作用下的深度研究。上海屹持光電提供的標準系統按照性能優(yōu)先,穩定性?xún)?yōu)先的設計思路,可以滿(mǎn)足實(shí)驗室研究及工業(yè)生產(chǎn) 中各種相關(guān)材料的測試需求。標準設備中提供了磁場(chǎng)激勵、電流激勵等多種選項,是客戶(hù)在自旋特性研究中的得力測試平臺。更多的選項可以根據客戶(hù)需求選擇升級。
設備平臺 | 氣動(dòng)懸浮光學(xué)平臺 |
光學(xué)主體 | 卡爾蔡司顯微鏡主體,目鏡+相機觀(guān)測可切換,高精度自動(dòng)檢偏模組,高 精度電動(dòng)聚焦模塊,超長(cháng)焦物鏡。 |
系統光源1 | 高功率智能光源模塊,入射角、波長(cháng)、亮度、頻率分區可控,多色彩光源 可選;光源位置、聚焦可調。 |
磁場(chǎng)2 | 垂直磁場(chǎng)(最高 1.2 T) 面內磁場(chǎng)(最高 0.8 T) |
電學(xué)儀表3 | Keithley 6221, Keithley 2400, Tetronics 微波源 |
探針 | DC,高頻探針,按照客戶(hù)需求選配 |
占地面積(含機柜)4 | 2000 mm * 1500 mm |
溫度 | 20 – 30° |
濕度 | RH< 60 % |
電源 | 220 V, 50 Hz |
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